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afm原子力顯微鏡探針參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um） 涂層：懸臂探測(cè)器側(cè)有鋁反射涂層，30 nm 厚

spm掃描探針技術(shù)參數(shù)：針尖：10nm 力學(xué)常數(shù)：48N/m(28-75N/m) 共振頻率：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬度：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um）

spm掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級(jí)的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

納米掃描探針顯微鏡可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)（納米級(jí)別）；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。

低溫掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級(jí)的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu)；同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究，數(shù)值測(cè)定與分析。